Эллипсометр настольный спектральный SEI-Mapping, 96138-25
logo
Аккредитованная метрологическая лаборатория по поверке СИ и аттестации ИО
info@poverkasi.ru E-mail для заявок




    Эллипсометр настольный спектральный SEI-Mapping, 96138-25

    Эллипсометр настольный спектральный SEI-Mapping, 96138-25
    Заказать поверку

    Эллипсометр настольный спектральный SEI-Mapping (далее — эллипсометр) предназначен для измерений толщины и показателя преломления оптических покрытий плоских образцов посредством бесконтактного измерения эллипсометрических углов Пси и Дельта.

    Карточка СИ

    Номер в госреестре
    96138-25
    Наименование СИ
    Обозначение типа СИ
    SEI-Mapping
    Изготовитель
    Год регистрации
    2025
    Срок свидетельства
    МПИ (интервал между поверками)
    1 год
    Описание типа
    ГСИ. Эллипсометр настольный спектральный SEI-Mapping. Методика поверки

    Назначение

    Эллипсометр настольный спектральный SEI-Mapping (далее — эллипсометр) предназначен для измерений толщины и показателя преломления оптических покрытий плоских образцов посредством бесконтактного измерения эллипсометрических углов Пси и Дельта.

    Описание

    Принцип действия эллипсометра основан на измерении изменений состояния поляризации света, отраженного от границы раздела двух сред. Эллипсометр измеряет эллипсометрические углы Пси и Дельта на различных длинах волн. Программное обеспечение (далее — ПО) эллипсометра на основании измеренных данных об эллипсометрических углах с использованием математической модели определяет толщину и показатель преломления оптических покрытий на поверхности измеряемого объекта.

    Конструктивно эллипсометр состоит из блока поляризатора с источником света, гониометра с фиксированным углом падения света на образец, моторизованного стола для образцов диаметром до 300 мм с автоматическим перемещением по осям X, Y, Z и автоматической фокусировкой по Z, и блока анализатора отраженного от образца света. Неотъемлемой частью эллипсометра является вычислительный модуль на базе персонального компьютера со специализированным ПО для проведения измерений, сбора и анализа полученных данных.

    Эллипсометр снабжен вертикальной камерой для визуализации области измерения и выравнивания образца при помощи механизма наклона предметного стола. В состав эллипсометра входят две фокусирующие микронасадки для уменьшения размера светового пятна на образце.

    К данному типу средства измерений относится эллипсометр настольный спектральный SEI-Mapping с заводским номером 1010130058.

    Заводской номер, содержащий цифровое обозначение, и знак утверждения типа нанесён на шильдик методом цифровой лазерной печати на пластиковую пленку и наклеен на заднюю панель эллипсометра.

    Пломбирование эллипсометра не предусмотрено. Общий вид эллипсометра с обозначением места нанесения знака поверки, заводского номера и места нанесения знака утверждения типа представлен на рисунке 1.

    Место нанесения заводского номера и знака утверждения типа

    Место нанесения знака поверки

    Рисунок 1 — Общий вид эллипсометра настольного спектрального SEI-Mapping

    Программное обеспечение

    Для записи сигналов и их обработки используется специальное ПО «EometricsPro», работающее в операционной среде Microsoft Windows. ПО является защищенным. Никакие изменения кода программы невозможны. Обновления ПО производятся изготовителем путем выпуска обновлений на дисках и рассылкой пользователям.

    Метрологически значимая часть ПО размещается в памяти ПЭВМ. Доступ к метрологически значимой части ПО ограничен.

    Защита ПО от непреднамеренных и преднамеренных изменений соответствует уровню «средний» в соответствии с Р 50.2.077 — 2014.

    Идентификационные данные ПО представлены в таблице 1.

    Таблица 1 — Идентификационные данные ПО

    Идентификационные данные (признаки) Значение
    Идентификационное наименование ПО EometricsPro
    Номер версии (идентификационный номер) ПО, не ниже v.3.1.5.0
    Цифровой идентификатор ПО

    Технические характеристики

    аблица 2 — Метрологические характеристики эллипсометра

    Наименование характеристики Значение
    Диапазон измерений толщины покрытий, нм от 2 до 4500
    Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений толщины покрытий, нм:

    — в поддиапазоне от 2 до 10 нм включ.

    — в поддиапазоне св. 10 до 1000 нм

    ±1

    ±5

    Пределы допускаемой относительной погрешности измерений толщины покрытий в поддиапазоне от 1000 до 4500 нм, % ±1
    Диапазон измерений показателя преломления покрытий на длине волны 632,8 нм от 1,460 до 2,022
    Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений показателя преломления покрытий на длине волны 632,8 нм ±0,004

    Таблица 3 — Технические характеристики эллипсометра

    Наименование характеристики Значение
    Параметры электрической сети:

    — напряжение переменного тока, В

    — частота, Гц

    от 210 до 230 от 49 до 51
    Мощность, Вт 1550
    Габаритные размеры (длинахширинахвысота) (без учета ПК и монитора), мм, не более 900х570х742
    Условия эксплуатации:

    — температура окружающей среды, °С

    — относительная влажность воздуха, %

    — атмосферное давление, кПа

    от +20 до +26 от 35 до 60 от 75 до 101,4

    Знак утверждения типа

    нанесён на корпус эллипсометра методом наклеивания и типографским способом на титульный лист руководства по эксплуатации.

    Комплектность

    Таблица 4 — Комплектность средства измерений
    Наименование Обозначение Количество
    Эллипсометр настольный спектральный SEI-Mapping 1 шт.
    Программное обеспечение (ПО) для обработки результатов измерений EometricsPro 1 шт.
    Вертикальная камера для визуализации области измерения в ПО 1 шт.

    Продолжение таблицы 4

    Наименование Обозначение Количество
    Моторизованный стол для пластин диаметром до 300 мм, с автоматическим перемещением по осям X-Y-Z и автоматической фокусировкой по Z. 1 шт.
    Фокусирующие микронасадки 2 шт.
    Безмасляный вакуумный насос Linicon 1 шт.
    Руководство по эксплуатации 1 экз.

    Сведения о методах измерений

    приведены в главе 4 «Работа программного обеспечения» документа «Эллипсометр настольный спектральный SEI-Mapping. Руководство по эксплуатации».

    Нормативные документы

    Приказ Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 09.09.2024 № 2154 «Об утверждении Государственной поверочной схемы для средств измерений комплексного показателя преломления и толщины оптических покрытий».